集成电路测试原理与技术（本科生.研究生教材）

北京航空航天大学出版社编王香芬高成姚金勇著

销售价￥52.00

配送至
北京北京市东城区

省/直辖市

城市

地区

数量

- +
请勾选您要的商品信息商品库存不足，请选择其他商品

商品编码（ISBN） 9787512450820
中图分类号 TN407
开本其他
出次 1
出版时间 2026-08-01 00:00:00
出版社北京航空航天大学出版社
作者王香芬高成姚金勇

普通信息
商品编码（ISBN）	9787512450820
出版时间	2026-08-01 00:00:00
出版社	北京航空航天大学出版社
作者	王香芬高成姚金勇
中图分类号	TN407
开本	其他
出次	1

我的足迹

您暂未有浏览记录~

购物指南

支付方式

优惠券支付

配送方式

售后服务

退换货制度

申请退换货

新华服务

京公网安备 11010202007572号丨京ICP证京B2-20171652号丨京ICP备16042375号-2

出版物经营许可证新出发京批字第直200352号丨互联网药品信息服务资格证书编号：(京)-非经营性-2022-0045

Copyright © 2015 - 2024 新华互联电子商务有限责任公司版权所有

客服热线：4006666505

注册地址：北京市西城区北礼士路135号39号楼1层101、2层201

网络警察提示您

中国互联网举报中心

网络举报下载